SIM卡波形测量

尽管基站与手机之间的数据沟通随时随地进行着，但断定哪个时刻数据沟通往往很难，但有两点必能断定：

• 当手机开机时与基站进行鉴权时必有数据沟通，SIM卡引脚上一定有波形。
• 当前手机均支持SIM卡热插拔，因此在已开机状态下，重新插入SIM卡，引脚上一定有波形

初始化波形

某手机，在插入SIM卡后，示波器丈量到SIM_I/O、SIM_CLK、SIM_RST信号，如下图：

这张波形实际上是SIM卡初始化波形，初始化流程总结如下：

1. VCC、CLK先后上电，CLK上电之后，SIM卡应在200个时钟周期（ta）内将I/O设置为状态H，并且将RST保持在低电平状态至少400个时钟周期（延迟tb）。当RST处于状态L时，手机CPU应忽略I/O上的电平状态。
2. 经过时间Tb，RST由CPU端驱动进入高电平状态。在RST信号的上升沿之后，SIM卡的I/O应当在400到40000个时钟周期（tc）之间开始应答，即发送ATR（Answer To Reset）命令给CPU，ATR是一串有特定格式的字节。
3. CPU收到ATR后，向SIM卡发送“响应APDU”，APDU是一个握手协议。SIM收到APDU之后，再返回“响应APDU”，从而完成识卡。

波形细节

SIM卡协议中，均对各个管脚的波形细节参数做了规定。以CLK波形为例，下面是某高通平台手机实测图，因为CLK线上串了100Ω电阻，需要关注CLK信号上升沿是否满足要求。